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AI算力芯片的功耗測試方法

更新時間:2025-06-03      點擊次數(shù):77

       AI芯片的電流并不是一個固定的參數(shù),而是根據(jù)具體的應用場景和設(shè)計需求有所不同。? 例如,控制芯片是集成LDO、5路達林頓管驅(qū)動和內(nèi)核MCU的控制芯片,其單路達林頓管可輸出500mA電流,并支持多路并聯(lián)以承受更大的電流?。而MOSFET驅(qū)動器,其峰值輸出電流為6A,適用于需要高電流輸出的應用場景?。

       傳統(tǒng)的功耗測試方案:功耗測試儀支持主通道輸出電壓范圍0.8V至13.5V和高達6A的連續(xù)電流。除了主通道外,它還支持通過USB和輔助通道進行高達5.5V的外部輸入。它是一個兼?zhèn)潆娫春碗娏鳒y量設(shè)備,它提供了方便的二合一功能,同時全自動支持任何編程需求。

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       對于需要同時監(jiān)測更大電流、更多信號、變化更快的AI芯片來說,功耗測試儀并不能滿足需求。

 

       新的功耗測試方案:八通道示波器+電流探頭+差分探頭+多通道電池模擬器

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1、高分辨率八通道示波器可一次捕獲所有相關(guān)信號的上電過程,節(jié)省測量時間,提高工作效率,減少因多次測量引入的誤差,對有 8 個以上電源軌的復雜電路,可一次完成測量。其通過同步機觸發(fā)多臺(可達64臺)示波器同步采集,支持擴展至512個模擬通道。

2、多通道電池模擬器的特點:高精度、多通道、四象限可編程。電壓精度高達0.01%F.S.,支持微安級電流測量,單機多達24個通道,且通道間相互隔離,方便多通道串聯(lián)使用。模擬器支持電源模式、靜態(tài)功耗測試功能,充電模式,放電模式,電池模擬,序列測試,脈沖功能及多種故障模擬,不僅可滿足BMS測試需求,還可滿足消費類電子產(chǎn)品ATE測試。

3、高壓差分探頭 7000V 500MHz 全量程偏置電壓消除,具有浮地測量功能的高壓高頻差分探頭。典型精度1%滿足了大部分測試系統(tǒng)的需要。探頭配備標準的BNC輸出接口,可與任何廠家的示波器配合使用。 高壓差分探頭可全量程偏置電壓消除,精準測量紋波電壓。

4、小鉗口型電流探頭體積輕巧,可在擁擠的電路板中使用自如;小型鉗夾可以在緊張的空間中探測電流,能夾住的導線直徑達5mm;可以測量30A的連續(xù)電流和50A的峰值電流,電流探頭提供120MHz帶寬;探頭具有30A (10X)和5A (1X)兩個量程可選擇,5A (1X)量程特別適用于小電流測量,分辨率高達1mA。

注意事項:相對較小的時滯可引起較大的開關(guān)損耗測量錯誤,特別是在電壓幾近于零時的導通相位期間和電流幾近于零的非導通相位期間。當嘗試在存在相對較大的開關(guān)電壓和(或)電流的情況下測量微弱電壓和(或)電流時,這是典型的示波器動態(tài)范圍限制。

通過時滯校準,以此糾正示波器或探頭時滯。時滯校準開始時應執(zhí)行一次,并在硬件設(shè)置的任何部分發(fā)生變化(例如,不同的探頭、不同的示波器通道等)或環(huán)境溫度發(fā)生變化時重新運行。


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